一、作用：按鍵壽命試驗機是一種用于測試按鍵在工作情形時經(jīng)過反復的按下一定天數(shù)后之受損情況，以此來判斷按鍵的使用壽命。以幫助客戶更好地了解自己的產(chǎn)品，不斷提高產(chǎn)品質(zhì)量，本設(shè)備分別有4個小計時數(shù)器，分別可測試記錄產(chǎn)品當時測試值。
二、適用范圍：主要用于檢測手機、鼠標、鍵盤、搖控按鍵、麥克風等之按鍵、通訊類等硅膠按鍵及金屬彈片按鍵之使用壽命，對微動開關(guān)，橡膠開關(guān)，薄膜開關(guān)等按鍵壽命均適用。
三、主要技術(shù)參數(shù)：
型 號: KSD-AZ-4
1、測試工位：4個工位（每組可單獨運行，可單獨控制）
2、測試速度：3～60次/分鐘可調(diào)可設(shè)定
3、測試行程：0～30mm可調(diào)
4、測試次數(shù)：0～999999（可分開計數(shù)）
5、動作方式：電動（觸摸屏控制）
6、測試荷重：50-450gf 、100-1000gf、 200-2000gf
7、行程桿與按鍵頭上、下、左、右靈活可調(diào)
8、測試夾具：根據(jù)貴公司提供樣品四套、靈活可調(diào),按針根據(jù)貴司的樣品定做。
9、使用電源：AC220V/50Hz
10、產(chǎn)品按鍵損壞：自動停止計數(shù)
11、機臺重量：90KG
KSD按鍵壽命試驗機具有速度可調(diào)，次數(shù)任意設(shè)定，同時可測試數(shù)個產(chǎn)品（每個產(chǎn)品均可多點測試）。另每個按鍵可以設(shè)定不同壓力及不同高度。同時采用每個測試頭分開控制,專用夾具設(shè)計，人性化操作,可滿足客戶不同測試需求。