企業(yè)在研制階段產(chǎn)品會存在各方面的缺陷，產(chǎn)品安裝位置、使用頻率、不同環(huán)境等都存 在客觀條件影響產(chǎn)品的功能和性能質(zhì)量，在提高產(chǎn)品可靠性主面，環(huán)境試驗占有重要位置，說的極端些，沒有環(huán)境試驗，就無法正確鑒別產(chǎn)品的品質(zhì)、確保產(chǎn)品質(zhì)量。下面科賽德儀器工程師為大家介紹電子產(chǎn)品高加壽命試驗方法。

0、引言：
高加速壽命試驗(HALT: Highly Accelerated Life Test)技術(shù)是目前國際上比較流行的可靠性試驗技術(shù)，它的優(yōu)點是根據(jù)被測產(chǎn)品的自身特點吸產(chǎn)品的使用環(huán)境，由研發(fā)人員設(shè)定出適合該產(chǎn)品的試驗參數(shù)，從而提高了試驗效率。HALT試驗尤其適用于使用PCB板的電子產(chǎn)品。
1.試驗?zāi)康募肮ぷ髟?br /> 1.1試驗?zāi)康?br /> 傳統(tǒng)的可靠性試驗及環(huán)境適應(yīng)性試驗并不能確定產(chǎn)品工作極限條件，而HALT試驗通過不斷修改試驗參數(shù)，由記錄表來確定產(chǎn)品的操作極限和破壞極限。試驗中不斷增加的應(yīng)力遠(yuǎn)大于正常使用條件的環(huán)境應(yīng)力,使得產(chǎn)品的缺陷可以在較短的時間內(nèi)暴露，節(jié)約了 試驗時間。于電子產(chǎn)品基本符合浴盆曲線原理。在產(chǎn)品的早期將故障暴露后,設(shè)計人員可以分析故障產(chǎn)生的原因，這對元器件的選型及原理設(shè)計都具有指導(dǎo)意義。
1.2工作原理
HALT試驗一般分為低溫步進(jìn)試驗、高溫步進(jìn)試驗、快速熱循環(huán)試驗、振動步進(jìn)試驗、溫度與振動綜合試驗。需要注意的是，快速熱循環(huán)試驗和溫度 與振動綜合試驗的條件確定需要低溫步進(jìn)試驗、高溫步進(jìn)試驗和振動試驗的相關(guān)數(shù)據(jù)作為邊界條件。
2、試驗方法
2.1低溫步進(jìn)試驗
電子產(chǎn)品進(jìn)行HALT試驗時，樣品通常處于通電狀態(tài),如有需要可以通過其他設(shè)備監(jiān)控樣品的工作狀態(tài)。-般情況下設(shè)定起始溫度為20。C,每階段降溫10°C( -30°C以后步進(jìn)步長改變?yōu)?°C)，每個階段保持- -段時間， 通常為10 min,溫度穩(wěn)定后做一-次功能測試,以此類推直到樣品發(fā)生功能故障,繼續(xù)降低溫度，直到產(chǎn)品失效并不可恢復(fù)，由此來確定低溫操作極限和破壞極限，如圖1。
2.2高溫步進(jìn)試驗

試驗時樣品處于通電狀態(tài)，設(shè)定起始溫度為20°C,每階段升溫10 °C( 120 °C以后步進(jìn)步長改變?yōu)?°C),每個階段維持10 min,溫度穩(wěn)定后做一-次功能測試, 以此類推直到樣品發(fā)生功能故障，繼續(xù)增加溫度,直到產(chǎn)品失效并不可恢復(fù)，由此來確定高溫操作極限和破壞極限，如圖2。

2.3快速熱循環(huán)試驗
在先前的試驗中可以得到低溫及高溫的極限數(shù)據(jù)值,將這兩個極限值作為熱循環(huán)的上下極限值,并以1°C/s的溫 度變化率在此區(qū)間內(nèi)進(jìn)行若千個循環(huán)。在每個循環(huán)的高溫極限和低溫極限都要保持一段時間， 通常選擇:10 min,溫度穩(wěn)定觀察測試產(chǎn)品功能，直到樣品發(fā)生故障，由此來確定操作極限和破壞極限，如圖3。

2.4振動步進(jìn)試驗
將試驗的加速度初始值設(shè)定為5g,然后每階段增加5g,在每個階段維持10 min并做功能檢測，直到樣品發(fā)生功能故障，繼續(xù)增加加速度值，直到產(chǎn)品不可恢復(fù)，以此來確定樣品的振動操作界限，如圖4。本試驗對振動臺架及產(chǎn)品陜具的要求較高，試驗中應(yīng)注意夾具的狀態(tài)。

2.5溫度與振動綜合試驗
HALT試驗將溫變與振動同時施加于被測樣品.上,相比于傳統(tǒng)的老化試驗,老化的效果更明顯。溫度變化的上下極限與溫度變化的速率與快速熱循環(huán)試驗相同。-般選取振動的初始值為5g，每個循環(huán)加速度增加5g。每個階段的高低溫極限值保持10 min,待溫度穩(wěn)定后觀察樣品的功能。如此重復(fù)進(jìn)行，直至達(dá)到操作極限及破換極限為止

3.結(jié)論
HALT試驗不僅能確定產(chǎn)品的極限應(yīng)力，且能夠快速地找出設(shè)計缺陷并改進(jìn),大大縮短了試驗時間和研制周期，非常適合電子產(chǎn)品的研發(fā)。由于HALT試驗不同于傳統(tǒng)的環(huán)境試驗,沒有規(guī)定的試驗標(biāo)準(zhǔn)，因此它具有一定的開放性, 設(shè)計人員可以根據(jù)產(chǎn)品的實際情況對試驗條件進(jìn)行修改,相信HALT試驗在電子產(chǎn)品的開發(fā)上會發(fā)揮越來越重要的作用。

東莞科賽德儀器一直致力于產(chǎn)品研制和生產(chǎn)階段可靠性與環(huán)境試驗的研究及技術(shù)服務(wù)，從產(chǎn)品技術(shù)研發(fā)、設(shè)計、定型、樣品生產(chǎn)到產(chǎn)質(zhì)控，提供-站式的可靠性與環(huán)境試驗解決方案，為您提高產(chǎn)品的可靠性、穩(wěn)定性、環(huán)境適應(yīng)性和安全性,縮短產(chǎn)品的研發(fā)和生產(chǎn)周期，保駕護(hù)航。